基于高光谱成像技术的水稻叶片稻纵卷叶螟虫害信息提取

文献类型： 中文期刊

第一作者： 田明璐

作者： 田明璐;班松涛;袁涛;马超;孔吉;周远;王彦宇;李琳一

作者机构：

关键词： 高光谱图像;稻纵卷叶螟;植被指数;决策树分类

期刊名称： 上海农业学报

ISSN： 1000-3924

年卷期： 2022 年 38 卷 001 期

页码： 90-94

收录情况： 北大核心 ; CSCD

摘要： 使用成像光谱仪获取遭受稻纵卷叶螟危害的水稻叶片的高光谱影像,统计分析虫害叶片和健康叶片在光谱反射率和植被指数上的差异,建立分类判别模型,精确提取叶片上虫害区域的像元数和比例,实现对虫害严重程度的精确评估.结果表明:在波长为400—710 nm的可见光-红边波段范围内,虫害叶片的反射率普遍高于健康叶片,差异极显著(P<0.01);在近红外波段虫害叶片反射率低于健康叶片(P<0.01),但二者差异略小.虫害叶片的NDVI、RVI、RARS和SIPI 4种植被指数值明显低于健康叶片.基于RVI构建决策树分类模型能够准确区分叶片上的虫害区域和健康区域,并据此计算出虫害区域所占比例,进而对虫害严重程度进行定量化评估.

分类号： S126%S435.112

  • 相关文献
作者其他论文 更多>>

微信小程序