一粒小麦染色体高分辨显带

文献类型： 中文期刊

第一作者： 卫俊智

作者： 卫俊智;朱凤绥

作者机构：

关键词： 一粒小麦;高分辨显带;AMD 法

期刊名称： 作物学报

ISSN： 0496-3490

年卷期： 1989 年 15 卷 02 期

页码： 141-145

收录情况： CSCD

摘要： AMD 法显带技术对一粒小麦的染色体进行染色体高分辨显带,经过放线菌素 D 预处理、Ohnuki′s 溶液低渗、固定液中捣碎涂片法制片、Wright-Giemsa 染色等显带程序,可以在一粒小麦的所有染色体上成功地显示丰富的高分辨带纹,并对其进行了分析与配对,平均每条染色体上有20多条深带,整个染色体组共显143条带纹。这将对一粒小麦染色体的识别与鉴定、小麦染色体起源与进化的研究起一定的促进作用。

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  • 相关文献

[1]一个一粒小麦抗白粉病主效QTL的定位. 贾海燕,姚国旗,张政值,许红星,付必胜,孔忠新,马正强. 2009

[2]一粒小麦抗白粉病和条锈病基因的分析. 周荣华,孔秀英,徐世昌,张书绅,孙晓丽,贾继增. 2005

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