电子束对大麦的诱变效应研究互Ⅰ．对M_1和M_2的效应

文献类型： 中文期刊

第一作者： 芮静宜

作者： 芮静宜;金加兰;马新生;黄培忠;马俊虎

作者机构：

关键词： 电子束辐照育种，大麦，成株率，结实率，突变谱

期刊名称： 辐射研究与辐射工艺学报

ISSN：

年卷期： 1995 年 01 期

页码：

收录情况： 北大核心

摘要： 采用１００—３００Ｇｙ辐照处理１３个大麦品种（系）的风干种子，Ｍ１代产生明显的生物学辐射损伤，表现在苗的高度降低，第一叶片长度和根的长度变短，植物存活率和结实率下降。电子束诱变的适宜剂量一般为１００—２００Ｇｙ，在此剂量范围内，Ｍ２代突变频率为０．２７６％－３．８４％，除出现多种叶绿素缺陷突变外，还出现植株生长习性、株高、叶型、穗型、穗长，芒型、早熟性及茎叶蜡质减少等形态或生理性状突变，表现电子束对大麦具有诱变类型丰富、突变谱广的特点。同一种诱变处理的Ｍ１结实率高低的不同类型还会影响到Ｍ２形态突变的类型。

分类号： O571

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