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作者: 张东彦; 张竞成; 朱大洲; 王纪华; 罗菊花; 赵晋陵; 黄文江; EI SCI 北大核心 CSCD
机构: 国家农业信息化工程技术研究中心
来源:光谱学与光谱分析
关键词: 高光谱成像 特征分析 胁迫 小麦叶片
年份:2011
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