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作者: 张明; 李鹏; 邓烈; 何绍兰; 易时来; 郑永强; 谢让金; 马岩岩; 吕强; 北大核心 CSCD
机构: 西南大学工程技术学院;西南大学柑桔研究所/中国农业科学院柑桔研究所
来源:中国农业科学
关键词: 脐橙 表面缺陷 分割 去除背景 亮度校正 单阈值
年份:2019
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