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共1条记录
1基于55K SNP芯片的小麦籽粒主要品质性状的全基因组关联分析
作者: 北大核心 CSCD
机构:
来源:作物学报
关键词: 小麦 品质性状 全基因组关联分析 55K芯片 有利等位基因
年份:2024
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