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1基于55K SNP芯片的小麦籽粒主要品质性状的全基因组关联分析

作者: 北大核心 CSCD

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来源:作物学报

关键词: 小麦 品质性状 全基因组关联分析 55K芯片 有利等位基因

年份:2024

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