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作者: 金宇霏; 陆慧娟; 郭鑫璐; 张俊; 朱文杰;
机构: 中国计量大学信息工程学院浙江省电磁波信息技术与计量检测重点实验室;浙江省农业科学院食品科学研究所
来源:中国计量大学学报
关键词: 迁移学习 深度残差网络 缺陷检测 ResNet50 小样本
年份:2021
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