苹果糖度无损检测模型研究

文献类型: 中文期刊

第一作者: 王风云

作者: 王风云;沈宇;张琛;刘炳福;郑纪业

作者机构:

关键词: 苹果;套袋;不套袋;偏最小二乘回归;多元散射校正;糖度;无损检测

期刊名称: 中国农业信息

ISSN: 1672-0423

年卷期: 2018 年 04 期

页码: 101-108

摘要: 【目的】对套袋和不套袋苹果分别建立反射光谱与糖度预测模型,并对模型的精度进行比较分析,为构建苹果品质分级系统提供理论支撑。【方法】采用美国ASD公司的便携式光谱仪和数显折光计分别测量套袋和不套袋烟富3号红富士苹果,以苹果赤道位置4个取样点的反射率光谱和对应位置的糖度为数据源,原始光谱经多元散射校正后,与糖度数据一同用偏最小二乘回归算法,分别建立套袋和不套袋苹果的反射率光谱糖度模型,进行糖度预测。【结果】(1)套袋苹果校正集相关系数Rc=0.76,均方根误差RMSEP=0.8375 Brix;预测集相关系数Rv=0.72,均方根误差RMSEP=0.8702 Brix;(2)不套袋苹果校正集相关系数Rc=0.69,均方根误差RMSEP=0.9040 Brix;预测集相关系数Rv=0.63,均方根误差RMSEP=0.9134 Brix。【结论】不套袋苹果的模型精度低于套袋苹果模型精度。相对复杂的表面情况导致不套袋苹果模型精度较差,不套袋苹果的无损检测误差会高于套袋苹果。

分类号: S661.1`O212.1

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