文献类型： 中文期刊

作者： 张东彦 ¹ ; 张竞成 ¹ ; 朱大洲 ¹ ; 王纪华 ¹ ; 罗菊花 ¹ ; 赵晋陵 ¹ ; 黄文江 ¹ ;

作者机构： 1.国家农业信息化工程技术研究中心

关键词： 高光谱成像;特征分析;胁迫;小麦叶片

期刊名称： 光谱学与光谱分析

ISSN： 1000-0593

年卷期： 2011 年 31 卷 04 期

页码： 1101-1105

收录情况： EI ; SCI ; 北大核心 ; CSCD

摘要： 作物在遭受各种胁迫下的长势及健康诊断是精细农业操作的重要环节。高光谱成像技术具有图谱合一的优势,已成为近年来国内外研究的热点。本文以叶片尺度的小麦为研究对象,利用自主研发的成像光谱仪,采集遭受养分、病虫害胁迫的小麦叶片高光谱图像,利用逐像素平均法增强光谱特征,根据反射率差异进行分析研究。结果表明,提取的高光谱能够反映不同叶位叶片的养分差异,还能利用成像图直观地进行作物养分胁迫程度判断;利用成像光谱仪2 nm的光谱分辨率和毫米级的空间分辨率,在作物感染病害时,既可定量每个叶片的病斑个数,又能定性地分析感染面积对叶片造成的影响;在作物遭受虫害时,可对蚜虫群体甚至单个蚜虫的光谱信息进行提取,这为定量研究蚜虫对小麦叶片的危害提供了新的手段。上述结果充分说明成像高光谱在作物长势定量定性分析研究中具有独特的优势。