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电子束对大麦的诱变效应研究互Ⅰ.对M_1和M_2的效应

文献类型: 中文期刊

作者: 芮静宜 1 ; 金加兰 2 ; 马新生 2 ; 黄培忠 2 ; 马俊虎 2 ;

作者机构: 1.中国科学院上海原子核研究所

2.中国科学院上海原子核研究所,上海农科院作物育种栽培研究所

关键词: 电子束辐照育种,大麦,成株率,结实率,突变谱

期刊名称: 辐射研究与辐射工艺学报

ISSN:

年卷期: 1995 年 01 期

页码:

收录情况: 北大核心

摘要: 采用100—300Gy辐照处理13个大麦品种(系)的风干种子,M1代产生明显的生物学辐射损伤,表现在苗的高度降低,第一叶片长度和根的长度变短,植物存活率和结实率下降。电子束诱变的适宜剂量一般为100—200Gy,在此剂量范围内,M2代突变频率为0.276%-3.84%,除出现多种叶绿素缺陷突变外,还出现植株生长习性、株高、叶型、穗型、穗长,芒型、早熟性及茎叶蜡质减少等形态或生理性状突变,表现电子束对大麦具有诱变类型丰富、突变谱广的特点。同一种诱变处理的M1结实率高低的不同类型还会影响到M2形态突变的类型。

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