您好,欢迎访问北京市农林科学院 机构知识库!

谷粒粒形参数的高通量检测方法

专利类型: 中国发明申请

专利权人: 北京派得伟业科技发展有限公司;北京农业信息技术研究中心

发明人: 吴建伟;杨宝祝;明博;申光磊;辛颖;韩建冰;彭浩;孙明军

专利号: CN201410023721.4

摘要: 本发明公开了一种谷粒粒形参数的高通量检测方法,包括以下步骤,搭建粒形检测平台;检测环境标定;影像采集与图像分割;轮廓提取与特征参数采集;利用粒形参数预设阈值进行粘连籽粒与杂质筛除;分析轮廓内图像,实现高通量颜色及纹理特征检测;输出谷物粒形参数检测结果。该粒形参数检测方法,其检测结果准确可靠,相比人工测量方法而言,极大地提高了检测效率和稳定性。能够满足基因研究中对谷粒粒形参数的检测需求。实现简单,检测高效准确,达到了应用的要求。

  • 相关文献
作者其他论文 更多>>