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玉米苗期缺苗数的测量方法

专利类型: 中国发明申请

专利权人: 北京农业信息技术研究中心

发明人: 王传宇;郭新宇;肖伯祥;杜建军;吴升

专利号: CN201310370436.5

摘要: 本发明提供一种玉米苗期缺苗数的测量方法,涉及农作物信息技术领域。该方法包括步骤S1、获取玉米苗期植株图像,得到图像序列I(I1,I2,…In),n为正整数;S2、将所述图像序列I(I1,I2,…In)中的相邻两幅图像的重复区域进行拼接,得到一幅玉米苗期行向图像IW;S3、对所述玉米苗期行向图像IW进行分割与识别,获取玉米苗期植株茎秆位置,并计算玉米苗期植株茎秆行向直线;S4、根据所述玉米苗期植株的茎秆行向直线识别缺苗位置,并计算缺苗数。本发明所述方法具有较高的自动化程度,能够代替人工方法调查玉米苗期缺苗数量,减少人力投入成本,去除人为误差的干扰。使评价玉米种子的品质、测量播种机具的作业精度指标的获取更加简洁。

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