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一种食品异物的无损探测方法

专利类型: 中国发明申请

专利权人: 北京市农林科学院

发明人: 王冬;潘立刚;马智宏;王纪华;李安;靳欣欣;贾文珅

专利号: CN201510174116.1

摘要: 本发明提供一种食品异物无损探测方法,所述方法包含以下步骤:用太赫兹波照射食品的上表面或下表面,采集食品反射太赫兹波的数据;通过所述数据获取食品的太赫兹波谱图像;通过太赫兹波谱图像获取食品的断层成像;通过断层成像判断食品中是否存在异物以及异物在食品中的位置。本发明可实现对食品异物的无损探测,扩展了太赫兹波谱的应用范围,从而为食品异物无损探测等提供重要技术手段。

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