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用测微计测定甜玉米果皮厚度

文献类型: 中文期刊

作者: 洪雨年 1 ;

作者机构: 1.上海市农业科学院作物育种栽培研究所

关键词: 甜玉米;果皮厚度;测微计;等基因自交系

期刊名称: 上海农业学报

ISSN: 10003924

年卷期: 1995 年 04 期

页码:

摘要: 通过对26份玉米材料(基因型为Su,su,sh2,suse)授粉后18d、22d和26d测定果皮厚度,得到4个重要结果;1)探索了一种测定果皮厚度的新方法,即用测微计测定甜玉米鲜果皮厚度;2)研究了19份材料(4种基因型)在22DAP(daysafterpollination)果皮厚度的差异性,不仅材料间有明显差异,而且基因型间的差异也达极显著水平;3)发现IL442a等材料不同授粉天数果皮厚度从18DAP到22DAP时略有增加;从22DAP到26DAP果皮变薄;4)分析结果表明,等基因自交系(IsogeneticLines)在不同授粉天数的果皮厚度为18DAP到22DAP增加,22DAP到26DAP有增有减。此外,果皮厚度在18DAP,3种基因型间无差异,而在22DAP和26DAP3种基因型间有极显著差异。

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