文献类型： 中文期刊

作者： 田明璐 ¹ ; 班松涛 ¹ ; 袁涛 ¹ ; 马超 ¹ ; 孔吉 ² ; 周远 ² ; 王彦宇 ¹ ; 李琳一 ¹ ;

作者机构： 1.上海市农业科学院农业科技信息研究所上海数字农业工程与技术研究中心

2.上海优澈智能科技发展有限公司

关键词： 高光谱图像;稻纵卷叶螟;植被指数;决策树分类

期刊名称： 上海农业学报

ISSN： 1000-3924

年卷期： 2022 年 38 卷 001 期

页码： 90-94

收录情况： 北大核心 ; CSCD

摘要： 使用成像光谱仪获取遭受稻纵卷叶螟危害的水稻叶片的高光谱影像,统计分析虫害叶片和健康叶片在光谱反射率和植被指数上的差异,建立分类判别模型,精确提取叶片上虫害区域的像元数和比例,实现对虫害严重程度的精确评估.结果表明:在波长为400—710 nm的可见光-红边波段范围内,虫害叶片的反射率普遍高于健康叶片,差异极显著(P<0.01);在近红外波段虫害叶片反射率低于健康叶片(P<0.01),但二者差异略小.虫害叶片的NDVI、RVI、RARS和SIPI 4种植被指数值明显低于健康叶片.基于RVI构建决策树分类模型能够准确区分叶片上的虫害区域和健康区域,并据此计算出虫害区域所占比例,进而对虫害严重程度进行定量化评估.