Cloning and Expression Analysis of Wild Boar Osteopontin Gene

作者： ZHANG Dong-jie; LIU Di;

机构： HeiLongJiang Academy of Agricultural Sciences, HAAS;

会议名称：iCBBE 2009

关键词： OPN Phylogenetic tree RT-PCR Western-blot Wild boar

年份：2009

Teleworking & Next Generation Cyberspace

作者： Eduard Babulak;

机构： The Gildart Haase School of Computer Sciences, Fairleigh Dickinson University;

会议名称：International Conference on Computational Intelligence, Modelling and Simulation (CSSim 2009)

关键词： Future Cyberspace Teleworking Telepresence Video-Conferencing Web 2-3 Internet 2-3 Augmented Reality Holoprojection Technology Google Trifecta Second Life Sci-fi Instant Displacements via a Teleport

年份：2009

海南紫长茄高产栽培技术

作者： ; ^A陈贻诵^B1%^A肖日新^B2%^A高方华^B3;

机构： ^A海南省农业科学院蔬菜研究所,海口571100;

会议名称：2008年中国茄子大会暨学术研讨会

会议举办方：中国园艺学会

关键词： 茄子 紫长茄 品种选择 高产栽培 海南地区

年份：2008

海南辣椒产业现状、问题及发展对策探讨

作者： 云天海; 肖日新;

机构： 华南热带农业大学农学院; 海南省农业科学院蔬菜研究所;

会议名称：第二届全国辣椒产业大会

会议举办方：中国园艺学会;中国农学会;中国蔬菜流通协会

关键词： 辣椒产业 品种结构 种植面积 品牌战略 技术推广 海南省

年份：2007

Impact of acid diffusion length on resist LER and LWR measured by CD-AFM and CD-SEM

作者： J. Foucher; A. Pikon; C. Andes; J. Thackeray;

机构： CEA/LETI/MINATEC, 17 rue des Martyrs 38054 Cedex 09 Grenoble, France; Rohm and Haas Electronics Materials, 455 Forest Street Marlborough MA 01752;

会议名称：Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI :

关键词： CD AFM CD SEM Line Edge Roughness (LER) Line Width Roughness (LWR) Chemically Amplified Photoresists Acid Diffusion Length

年份：2007

Hybrid optical: electron-beam resists

作者： D. M. Lennon; S. J. Spector; T. H. Fedynyshyr; T. M. Lyszczarz; M. Rothschild; J. Thackeray; K. Spear-Alfonso;

机构： Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA 02420; Rohm and Haas Electronic Materials, Marlborough, MA;

会议名称：Advances in resist materials and processing technology XXIV :

关键词： electron beam lithography hybrid lithography 193 immersion lithography

年份：2007

Etch resistance: comparison and development of etch rate models

作者： Damien Perret; Cecily E. Andes; Kap-Soo Cheon; Mani Sobhian; Charles R. Szmanda; George G. Barclay; Peter Trefonas III;

机构： Rohm and Haas Electronic Materials, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, France; Rohm and Haas Electronic Materials LLC, 455 Forest Street, Marlborough, MA 01752, USA;

会议名称：Advances in resist materials and processing technology XXIV :

关键词： ArF Photoresist BARC (Bottom Anti-Reflective Coating) Etch Rate Predictive Model

年份：2007

华南地区供港蔬菜生产基地有关问题的思考

作者： ; 肖日新;

机构： 海南省农业科学院蔬菜研究所,海口,571100;

会议名称：中国园艺学会蔬菜专业委员会2006年南方蔬菜产业发展研讨会

会议举办方：中国园艺学会;广东省蔬菜产业协会

关键词： 华南地区 蔬菜 生产基地 蔬菜市场

年份：2006

海南安全蔬菜生产现状及发展对策

作者： 肖日新; 周曼;

机构： 海南省农科院蔬菜研究所,海南海口,571100;

会议名称：中国园艺学会蔬菜专业委员会2006年南方蔬菜产业发展研讨会

会议举办方：中国园艺学会;广东省蔬菜产业协会

关键词： 无公害蔬菜 蔬菜生产 海南蔬菜

年份：2006

椰心叶甲在海南的发生及成灾机理

作者： 肖彤斌; 吴凤芝; 芮凯; 谢圣华; 陈绵才;

机构： 海南省农业科学院农业环境与植物保护研究所,海口,571100;

会议名称：中国植物保护学会2006年学术年会

会议举办方：中国植物保护学会

关键词： 椰心叶甲 昆虫形态学 植物害虫 成灾机理 微生态环境

年份：2006